Artikel gepubliceerd in Ultramicroscopy door Giepmans groep

18 januari 2024
Optical STEM detection for scanning electron microscopy

Arent J. Kievits, B.H. Peter Duinkerken, Job Fermie, Ryan Lane, Ben N.G. Giepmans, Jacob P. Hoogenboom

Volume 256, February, 113877. DOI 10.1016/j.ultramic.2023.113877

 

Back to previous page