Gepubliceerd in Ultramicroscopy door Giepmans groep
14 november 2023
 |
Optical STEM detection for scanning electron microscopy Arent J. Kievits, B.H. Peter Duinkerken, Job Fermie, Ryan Lane, Ben N.G. Giepmans, Jacob P. Hoogenboom Ultramicroscopy, 256, February 2024, 113877 |
